致力為節(jié)能、環(huán)保、特檢、高耗能企業(yè)、高??蒲小⑹称丰t(yī)藥等高端工業(yè)過(guò)程檢測(cè)的行業(yè)客戶提供全套解決方案
帶有U-SMPS的MFP Nano plus 4000 -使用兩個(gè)UF-CPC根據(jù)DIN EN 1822-3和ISO 29463-3標(biāo)準(zhǔn)在原始和清潔氣體中實(shí)時(shí)測(cè)定餾分分離效率,并檢測(cè)MMPS范圍
? 實(shí)時(shí)測(cè)定10 nm以上顆粒的餾分分離效率
? 通過(guò)測(cè)量原始?xì)怏w和清潔氣體中的顆粒濃度,可將確定餾分分離效率的時(shí)間減少一半。
? 無(wú)需稀釋?zhuān)?br/>? 結(jié)合兩種UF-CPC版本,UF-CPC在原始?xì)怏w中的最高測(cè)量濃度可達(dá)2,000,000顆粒/立方厘米(單計(jì)數(shù)模式),而UF-CPC 50在低濃度潔凈氣體中的最高計(jì)數(shù)率對(duì)應(yīng)于稀釋系數(shù)為1:200。
? 符合DIN EN 1822-3和ISO 29463-3的國(guó)際可比較的測(cè)量結(jié)果
? 方便地使用不同的測(cè)試氣溶膠,例如NaCl / KCl或DEHS(其他可根據(jù)要求提供)
Palas?的MFP過(guò)濾器測(cè)試臺(tái)已經(jīng)在開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制的實(shí)際應(yīng)用中在世界各地經(jīng)過(guò)多次驗(yàn)證。
MFP Nanoplus 4000專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于根據(jù)DIN EN 1822-3和ISO 29463-3標(biāo)準(zhǔn)精確地測(cè)定HEPA和ULPA過(guò)濾介質(zhì)的分離效率。
本設(shè)備是一種現(xiàn)代且功能強(qiáng)大的納米顆粒測(cè)量設(shè)備,以U-SMPS形式,進(jìn)行5 nm到1 μm范圍粒度測(cè)量和數(shù)值分析:
使用MFP Nanoplus 4000和UF-CPC冷凝粒子計(jì)數(shù)器在原始?xì)怏w和清潔氣體中實(shí)時(shí)測(cè)量特定尺寸的分離效率。
MFP Nanoplus 4000餾分分離效率的實(shí)時(shí)測(cè)量具有以下特殊優(yōu)勢(shì):
? 通過(guò)測(cè)量原始?xì)怏w和清潔氣體中的顆粒濃度,可將確定餾分分離效率的測(cè)量時(shí)間減半。
? 結(jié)合兩種UF-CPC版本,UF-CPC在原料氣中的最高測(cè)量濃度可達(dá)2,000,000顆粒/立方厘米(單計(jì)數(shù)模式),而UF-CPC 50在潔凈氣體低濃度下的最高計(jì)數(shù)率對(duì)應(yīng)于稀釋系數(shù)為1:200。因此,不再需要常規(guī)的氣溶膠稀釋。
借助通用氣溶膠發(fā)生器UGF 2000,可以使用DEHS或鹽(NaCl / KCl)生產(chǎn)與MMPS范圍相匹配的氣溶膠分布。
測(cè)試序列的高度自動(dòng)化設(shè)置以及清晰定義的單個(gè)組件和濾波器測(cè)試軟件FTControl的可單獨(dú)調(diào)整程序,共同提供高度可靠的測(cè)量結(jié)果。
MFP過(guò)濾器測(cè)試臺(tái)是用于扁平過(guò)濾器介質(zhì)和小型微型過(guò)濾器的模塊化過(guò)濾器測(cè)試系統(tǒng)??梢栽诤芏痰臅r(shí)間內(nèi)確定壓力損失曲線、餾分分離效率或負(fù)荷,既可靠又具有成本效益。